- 品名:梅特勒-托利多分析天平 XP205DR
- 产地:瑞士
- 毛重:0公斤
梅特勒-托利多 分析天平 XP205DR
梅特勒-托利多 分析天平 XP205DR 技术指标
可读性 |
0.1mg |
精细量程的可读性 |
0.01mg |
精细量程的最大称量值 |
81g |
最大称量值 |
220g |
重复性 正常加载 |
0.06mg(200g) |
重复性 -低加载 |
0.05mg(10g) |
重复性:精细量程微量加载 |
0.015mg(10g) |
线性 |
0.15mg |
灵敏度漂移 |
2.5x10-6 |
灵敏度温度漂移(10-30°C) |
1x10-6/°C |
接口更新速率 |
23/s |
天平外型尺寸(W×D×H mm) |
263×486.5×322 |
秤盘尺寸(W×D mm) |
76×73 |
梅特勒-托利多分析天平XP205DR
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146、147室
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